Phase II PHT1100G-01 Leeb Test Block for "G" Impact Device

Modèle: PHT1100G-01

Phase II PHT1100G-01 Leeb Test Block for "G" Impact Device

Modèle: PHT1100G-01

HLG Test Block for Impact Style G Testers only.

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Prix spécial $698.00 CAD
Prix régulier $776.00 CAD
Disponibilité 2 à 3 semaines
Quantité

Le Phase II PHT1100G-01 comprend

  • Phase II PHT1100G-01 Leeb Test Block for "G" Impact Device

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