Le C HiTESTER est idéal pour tester les machines de mise en bande et les trieuses. Il offre des fréquences de mesure de 120 Hz et 1 kHz ainsi qu'une mesure de tension constante de 500 mV et 1 V. Il ne possède pas d'interface GP-IB ni de fonction Bin.
Le C HiTESTER est idéal pour tester les machines de mise en bande et les trieuses. Il offre des fréquences de mesure de 120 Hz et 1 kHz ainsi qu'une mesure de tension constante de 500 mV et 1 V. Il ne possède pas d'interface GP-IB ni de fonction Bin.
Les appareils LCR et analyseurs d’impédance Hioki couvrent une gamme de fréquences allant de 1 mHz à 3 GHz, ce qui leur permet de répondre à un large éventail d’applications dans le domaine des essais de composants électroniques. La série 3504 comprend des appareils de capacité bi-bande adaptés aux contrôles de condensateurs MLCC à grande capacité à l’aide d’une tension constante.
Caractéristiques
Applications
| Paramètres de mesure | C (capacitance) D (coefficient de perte tan δ) |
| Gamme de mesure | C: 0.9400 pF à 20.0000 mF D: 0.00001 à 1.99999 |
| Précision de base | (Typ.) C: ±0.09% de la lecture ±10 dgt. D: ±0.0016 |
| Fréquence de mesure | 120 Hz, 1 kHz |
| Niveau du signal de mesure | 100 mV (3504-60 uniquement), 500 mV, 1 Vrms Gamme de mesure CV 100 mV: jusqu'à la gamme de 170 μF (fréquence source 1 kHz), jusqu'à la gamme de 1.45 mF (fréquence source 120 Hz) Gamme de mesure CV 500 mV: jusqu'à la gamme de 170 μF (fréquence source 1 kHz), jusqu'à la gamme de 1.45 mF (fréquence source 120 Hz) Gamme de mesure CV 1 V: jusqu'à la gamme de 70 μF (fréquence source 1 kHz), jusqu'à la gamme de 700 μF (fréquence source 120 Hz) |
| Impédance de sortie | 5Ω (en mode tension de borne ouverte en dehors de la gamme de mesure CV) |
| Affichage | DEL (six chiffres, le compte à pleine échelle dépend de la gamme de mesure) |
| Temps de mesure | 2 ms (valeur typique, dépend des réglages de configuration de mesure) |
| Fonctions | Sortie synchrone au déclenchement, mémorisation des configurations de réglage, comparateur, calcul de moyenne, rejet de faible C (détection de mauvais contact), détection de rebond, E/S EXT., RS-232C |
| Alimentation | Sélectionnable entre 100, 120, 220 ou 240 V CA ±10%, 50/60 Hz, 110 VA max. |
| Dimensions | 260 x 100 x 220 mm (10.24 x 3.94 x 8.66") |
| Poids | 3.8 kg (134 oz) |
| Paramètres de mesure | C (capacitance) D (coefficient de perte tan δ) |
| Gamme de mesure | C: 0.9400 pF à 20.0000 mF D: 0.00001 à 1.99999 |
| Précision de base | (Typ.) C: ±0.09% de la lecture ±10 dgt. D: ±0.0016 |
| Fréquence de mesure | 120 Hz, 1 kHz |
| Niveau du signal de mesure | 100 mV (3504-60 uniquement), 500 mV, 1 Vrms Gamme de mesure CV 100 mV: jusqu'à la gamme de 170 μF (fréquence source 1 kHz), jusqu'à la gamme de 1.45 mF (fréquence source 120 Hz) Gamme de mesure CV 500 mV: jusqu'à la gamme de 170 μF (fréquence source 1 kHz), jusqu'à la gamme de 1.45 mF (fréquence source 120 Hz) Gamme de mesure CV 1 V: jusqu'à la gamme de 70 μF (fréquence source 1 kHz), jusqu'à la gamme de 700 μF (fréquence source 120 Hz) |
| Impédance de sortie | 5Ω (en mode tension de borne ouverte en dehors de la gamme de mesure CV) |
| Affichage | DEL (six chiffres, le compte à pleine échelle dépend de la gamme de mesure) |
| Temps de mesure | 2 ms (valeur typique, dépend des réglages de configuration de mesure) |
| Fonctions | Sortie synchrone au déclenchement, mémorisation des configurations de réglage, comparateur, calcul de moyenne, rejet de faible C (détection de mauvais contact), détection de rebond, E/S EXT., RS-232C |
| Alimentation | Sélectionnable entre 100, 120, 220 ou 240 V CA ±10%, 50/60 Hz, 110 VA max. |
| Dimensions | 260 x 100 x 220 mm (10.24 x 3.94 x 8.66") |
| Poids | 3.8 kg (134 oz) |
