Mesure la tension, le courant par pince, la puissance, les formes d'onde et les harmoniques. Peut également mesurer le tableau de fusibles intégré et la chute de tension _V% (Zi).
Mesure la tension, le courant par pince, la puissance, les formes d'onde et les harmoniques. Peut également mesurer le tableau de fusibles intégré et la chute de tension _V% (Zi).
Caractéristiques
| Continuité/Résistance | |
| I nominale/Gamme/Résolution | I > 200 mA / 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) 12 mA / 39.99 Ω & 399.9Ω / 0.01 & 0.1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) avec signal sonore |
| Gamme/Résolution/Précision | 4 kΩ / 1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) 40 à 400 kΩ / 10 à 100 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) |
| Isolation | |
| Tension nominale | 50/100/250/500/1000 V CC |
| Gamme/Résolution/Précision | 0.01 MΩ à 2 GΩ / 10 kΩ à 1 MΩ / ±(5% de la mesure + 3cts) |
| Courant de court-circuit | ≤3 mA |
| Résistance de terre | |
| Gamme/Résolution/Précision à 3 points | 0.50 à 40 Ω / 0.01 Ω / ±(2% de la mesure + 10cts) 40 Ω à 15 kΩ / 0.1 à 1 Ω / ±(2% de la mesure + 2cts) 15 à 40 kΩ/10 Ω / ±(10% de la mesure + 2cts) |
| Ufk à 3 points | Conforme à la norme SEV 3569 |
| Gamme sélective/Résolution/Précision à 1 point | 0.20 à 39.99 Ω – 40 à 399.9 Ω / 0.01 à 0.1 Ω / ±(10% de la mesure + 10cts) (ISel via pince) |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) & ZI (L-N OU L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tableau des fusibles intégré | Oui |
| Chute de tension ΔV% (Zi) | -40% à 40% |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) et ZI (L-N OU L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tension/Fréquence d'installation de terre sous tension | 90 à 500 V / 15.8 à 17.5 Hz – 45 à 65 Hz |
| Gamme/Résolution/Précision en mode courant élevé | Courant de test max.: 7.5 A (0.050) 0.100 à 0.5 Ω / 0.001 Ω / ±(10% de la mesure + 20cts) 0.5 à 3.999 Ω / 0.001 Ω / ±(5% de la mesure + 20cts) 3.999 à 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) 39.99 à 399.99 Ω / 0.1 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) |
| DDR de type B | |
| Tension/Fréquence d'installation | 90 à 275 V / 15.8 à 17.5 Hz et 45 à 65 Hz |
| IΔn: Rampe/Impulsion 2 x IΔn Impulsion 4 x IΔn | 10 / 30 / 100 / 300 / 500 mA et 10 / 30 / 100 mA avec impulsion 4 IΔn Durée: 150 ms avec 4 x IΔn ou 300 ms avec 2 x IΔn |
| Test en mode rampe | 0.2 x IΔn à 2.2 x IΔn |
| Test de déclenchement (TRIP): 2 x IΔn et 4 x IΔn | IΔN ≤ 200 mA: 2.2 x 2 x IΔn IΔN > 200 mA: 1.1 x 2 x IΔn IΔN ≤ 100 mA: 2.2 x 4 IΔN |
| Continuité/Résistance | |
| I nominale/Gamme/Résolution | I > 200 mA / 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) 12 mA / 39.99 Ω & 399.9Ω / 0.01 & 0.1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) avec signal sonore |
| Gamme/Résolution/Précision | 4 kΩ / 1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) 40 à 400 kΩ / 10 à 100 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) |
| Isolation | |
| Tension nominale | 50/100/250/500/1000 V CC |
| Gamme/Résolution/Précision | 0.01 MΩ à 2 GΩ / 10 kΩ à 1 MΩ / ±(5% de la mesure + 3cts) |
| Courant de court-circuit | ≤3 mA |
| Résistance de terre | |
| Gamme/Résolution/Précision à 3 points | 0.50 à 40 Ω / 0.01 Ω / ±(2% de la mesure + 10cts) 40 Ω à 15 kΩ / 0.1 à 1 Ω / ±(2% de la mesure + 2cts) 15 à 40 kΩ/10 Ω / ±(10% de la mesure + 2cts) |
| Ufk à 3 points | Conforme à la norme SEV 3569 |
| Gamme sélective/Résolution/Précision à 1 point | 0.20 à 39.99 Ω – 40 à 399.9 Ω / 0.01 à 0.1 Ω / ±(10% de la mesure + 10cts) (ISel via pince) |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) & ZI (L-N OU L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tableau des fusibles intégré | Oui |
| Chute de tension ΔV% (Zi) | -40% à 40% |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) et ZI (L-N OU L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tension/Fréquence d'installation de terre sous tension | 90 à 500 V / 15.8 à 17.5 Hz – 45 à 65 Hz |
| Gamme/Résolution/Précision en mode courant élevé | Courant de test max.: 7.5 A (0.050) 0.100 à 0.5 Ω / 0.001 Ω / ±(10% de la mesure + 20cts) 0.5 à 3.999 Ω / 0.001 Ω / ±(5% de la mesure + 20cts) 3.999 à 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) 39.99 à 399.99 Ω / 0.1 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) |
| DDR de type B | |
| Tension/Fréquence d'installation | 90 à 275 V / 15.8 à 17.5 Hz et 45 à 65 Hz |
| IΔn: Rampe/Impulsion 2 x IΔn Impulsion 4 x IΔn | 10 / 30 / 100 / 300 / 500 mA et 10 / 30 / 100 mA avec impulsion 4 IΔn Durée: 150 ms avec 4 x IΔn ou 300 ms avec 2 x IΔn |
| Test en mode rampe | 0.2 x IΔn à 2.2 x IΔn |
| Test de déclenchement (TRIP): 2 x IΔn et 4 x IΔn | IΔN ≤ 200 mA: 2.2 x 2 x IΔn IΔN > 200 mA: 1.1 x 2 x IΔn IΔN ≤ 100 mA: 2.2 x 4 IΔN |