Mesure la tension, le courant par pince, la puissance, les formes d'onde et les harmoniques. Peut également mesurer la table des fusibles intégrée et la chute de tension _V% (Zi). L'ensemble comprend une sonde de courant C177 A.
Mesure la tension, le courant par pince, la puissance, les formes d'onde et les harmoniques. Peut également mesurer la table des fusibles intégrée et la chute de tension _V% (Zi). L'ensemble comprend une sonde de courant C177 A.
Caractéristiques
| Continuité/Résistance | |
| I nominale/Gamme/Résolution | I > 200 mA / 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) 12 mA / 39.99 Ω & 399.9Ω / 0.01 & 0.1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) avec signal sonore |
| Gamme/Résolution/Précision | 4 kΩ / 1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) 40 à 400 kΩ / 10 à 100 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) |
| Isolation | |
| Tension nominale | 50/100/250/500/1000 V CC |
| Gamme/Résolution/Précision | 0.01 MΩ à 2 GΩ / 10 kΩ à 1 MΩ / ±(5% de la mesure + 3cts) |
| Courant de court-circuit | ≤3 mA |
| Résistance de terre | |
| Gamme/Résolution/Précision à 3 points | 0.50 à 40 Ω / 0.01 Ω / ±(2% de la mesure + 10cts) 40 Ω à 15 kΩ / 0.1 à 1 Ω / ±(2% de la mesure + 2cts) 15 à 40 kΩ/10 Ω / ±(10% de la mesure + 2cts) |
| Ufk à 3 points | Conforme à la norme SEV 3569 |
| Gamme/Résolution/Précision sélective à 1 point | 0.20 à 39.99 Ω – 40 à 399.9 Ω / 0.01 à 0.1 Ω / ±(10% de la mesure + 10cts) (ISel via pince) |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) & ZI (L-N OU L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tableau des fusibles intégré | Oui |
| Chute de tension ΔV% (Zi) | -40% à 40% |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) et ZI (L-N ou L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tension/Fréquence d'installation de terre sous tension | 90 à 500 V / 15.8 à 17.5 Hz – 45 à 65 Hz |
| Gamme/Résolution/Précision en mode courant élevé | Courant de test max.: 7.5 A (0.050) 0.100 à 0.5 Ω / 0.001 Ω / ±(10% de la mesure + 20cts) 0.5 à 3.999 Ω / 0.001 Ω / ±(5% de la mesure + 20cts) 3.999 à 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) 39.99 à 399.99 Ω / 0.1 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) |
| DDR de type B | |
| Tension/Fréquence d'installation | 90 à 275 V / 15.8 à 17.5 Hz et 45 à 65 Hz |
| IΔn: Rampe/Impulsion 2 x IΔn Impulsion 4 x IΔn | 10 / 30 / 100 / 300 / 500 mA et 10 / 30 / 100 mA avec impulsion 4 IΔn Durée: 150 ms avec 4 x IΔn ou 300 ms avec 2 x IΔn |
| Test en mode rampe | 0.2 x IΔn à 2.2 x IΔn |
| Test de déclenchement (TRIP): 2 x IΔn et 4 x IΔn | IΔN ≤ 200 mA: 2.2 x 2 x IΔn IΔN > 200 mA: 1.1 x 2 x IΔn IΔN ≤ 100 mA: 2.2 x 4 IΔN |
| Continuité/Résistance | |
| I nominale/Gamme/Résolution | I > 200 mA / 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) 12 mA / 39.99 Ω & 399.9Ω / 0.01 & 0.1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) avec signal sonore |
| Gamme/Résolution/Précision | 4 kΩ / 1 Ω / ±(1.5% de la mesure + 5cts) 40 à 400 kΩ / 10 à 100 Ω / ±(1.5% de la mesure + 2cts) |
| Isolation | |
| Tension nominale | 50/100/250/500/1000 V CC |
| Gamme/Résolution/Précision | 0.01 MΩ à 2 GΩ / 10 kΩ à 1 MΩ / ±(5% de la mesure + 3cts) |
| Courant de court-circuit | ≤3 mA |
| Résistance de terre | |
| Gamme/Résolution/Précision à 3 points | 0.50 à 40 Ω / 0.01 Ω / ±(2% de la mesure + 10cts) 40 Ω à 15 kΩ / 0.1 à 1 Ω / ±(2% de la mesure + 2cts) 15 à 40 kΩ/10 Ω / ±(10% de la mesure + 2cts) |
| Ufk à 3 points | Conforme à la norme SEV 3569 |
| Gamme/Résolution/Précision sélective à 1 point | 0.20 à 39.99 Ω – 40 à 399.9 Ω / 0.01 à 0.1 Ω / ±(10% de la mesure + 10cts) (ISel via pince) |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) & ZI (L-N OU L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tableau des fusibles intégré | Oui |
| Chute de tension ΔV% (Zi) | -40% à 40% |
| Impédance de boucle (ZS (L-PE) et ZI (L-N ou L-L))/Terre sous tension à 1 point | |
| Tension/Fréquence d'installation de terre sous tension | 90 à 500 V / 15.8 à 17.5 Hz – 45 à 65 Hz |
| Gamme/Résolution/Précision en mode courant élevé | Courant de test max.: 7.5 A (0.050) 0.100 à 0.5 Ω / 0.001 Ω / ±(10% de la mesure + 20cts) 0.5 à 3.999 Ω / 0.001 Ω / ±(5% de la mesure + 20cts) 3.999 à 39.99 Ω / 0.01 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) 39.99 à 399.99 Ω / 0.1 Ω / ±(5% de la mesure + 2cts) |
| DDR de type B | |
| Tension/Fréquence d'installation | 90 à 275 V / 15.8 à 17.5 Hz et 45 à 65 Hz |
| IΔn: Rampe/Impulsion 2 x IΔn Impulsion 4 x IΔn | 10 / 30 / 100 / 300 / 500 mA et 10 / 30 / 100 mA avec impulsion 4 IΔn Durée: 150 ms avec 4 x IΔn ou 300 ms avec 2 x IΔn |
| Test en mode rampe | 0.2 x IΔn à 2.2 x IΔn |
| Test de déclenchement (TRIP): 2 x IΔn et 4 x IΔn | IΔN ≤ 200 mA: 2.2 x 2 x IΔn IΔN > 200 mA: 1.1 x 2 x IΔn IΔN ≤ 100 mA: 2.2 x 4 IΔN |